In offerta!

Express Levering Characterization Methods for Submicron MOSFETs - Hisham Haddara - Libro in lingua inglese - Springer - The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Il prezzo originale era: 207,40 €.Il prezzo attuale è: 82,96 €.

Pagamenti sicuri Carta, PayPal e checkout protetto
Spedizione gratuita e veloce Consegna rapida in tutta Italia
Supporto rapido Assistenza su ordini e spedizioni
COD: SK2630366 Tag:

Descrizione

Fortuna Fatali e il teorema del calesse di Valentina Barzago Recensioni: 0/5 DettagliCuratore:Hisham HaddaraEditore:SpringerCollana:The Springer International Series in Engineering and Computer ScienceAnno:1996Rilegatura:HardbackPagine:232 p.Testo in EnglishDimensioni:235 x 155 mmEAN:9780792396956